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国产硅碳棒发热元件进行了XRDSEM和EDS分析 |
对分别在空气气氛中使用100炉和在氮气气氛中使用5炉后(每炉均设定为1 500℃保3 h )的国产硅碳棒发热元件进行了XRD,SEM和EDS分析,并探讨了其损毁机制。结果表明:1)国产硅碳棒发热元件未变层气孔较多,腐蚀性气体易通过气孔与硅碳棒反应造成损毁,少量的杂质相也可加速损毁;2 ) 硅碳棒发热元件在空气气氛中损毁的原因在于Si0:玻璃相以Si0气体挥发致使电阻不均,局部过热;3)氮气气氛中不能形成保护性玻璃膜,N:和少量CO与硅碳棒反应生成Mo5 Si3 , Mo3 Si, Mo, Mot C和S13 N4,使其变质损毁。 硅碳棒发热元件因具有升温速度快、高温抗氧化能力强、电阻值稳定、不会老化、发热量大、加热速率快等优点而被广泛应用,尤其适合在空气气氛或氧化性气氛中使用。但是,当使用气氛为氮气、氢气、一氧化碳、二氧化碳等时,其使用温度和使用寿命都受到限制,例如,在氮气气氛中的使用温度不宜超过1 5℃,在真空条件下的使用温度不宜超过,且使用寿命比在空气气氛中明显降低。 目前,氧化物一非氧化物复合材料已成为耐火材料领域研究的热点课题,尤其是氮化物结合耐火材料被广泛应用。氮化物结合耐火材料须在高温氮气气氛中烧成,而硅碳棒发热元件在N:气氛中使用寿命短,这提高了氮化物结合耐火材料的制备成本。为了合理选用发热元件以及研究开发抗特殊气氛中使用的硅碳棒发热元件,在本工作中,研究了国产MoSiZ发热元件(以下简称硅碳棒)在空气气氛和Nz气氛下使用时的损毁行为及机制。www.sdzygw.com
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